시편의 변형 전 이미지와 변형 후 이미지를 비교하여 시편의 전체 영역을 계산하는 기법

스프레이를 이용하여 시편의 전체 표면에 임의의 패턴을 만든 후 측정하기 때문에 전 영역의 측정이 가능

시험하는 동안 실시간으로 촬영을 하며 측정하기 때문에 시편의 변형률, 네킹 발생 지점 등을 확인할 수 있음

            <스프레이 도포>                                                                                                     <인장 시험 및 DIC 측정 진행>                                                        

DIC 측정 후 ARAMIS Software를 이용하여 시편의 표면을 계산하여 변형률을 측정